Qscratch 20 GO

Qscratch 20 GO to półautomatyczny tester zarysowania przeznaczony do badań makro- i mikroskopowych, służący do standaryzowanej kontroli jakości powłok oraz powierzchni. Urządzenie zostało zaprojektowane z myślą o laboratoriach, które wymagają wykonywania zdefiniowanych badań zarysowania, niezawodnej pracy oraz uzyskiwania wyników możliwych do prześledzenia i jednoznacznego udokumentowania — szczególnie w przypadku pojedynczych pomiarów realizowanych przy obciążeniu narastającym lub stałym.

System łączy dynamicznie sterowaną automatyzację osi Z, napędzaną silnikiem oś Y, elektroniczną kontrolę siły obciążenia oraz intuicyjne oprogramowanie QpixControl2, tworząc praktyczne i efektywne rozwiązanie do rutynowych badań powierzchni oraz powłok.

Badania zarysowania mogą być wykonywane w kontrolowanych warunkach, następnie oceniane metodami optycznymi oraz dokumentowane w formie uporządkowanych raportów pomiarowych.

Qscratch 20 GO obsługuje wymagania odpowiednich norm, w tym:

• DIN EN ISO 20502,
• ASTM C1624,
• ISO 27307,
• ASTM G171,

dzięki czemu stanowi kompaktowe rozwiązanie przeznaczone do monitorowania procesów produkcyjnych, rutynowej kontroli jakości oraz uzyskiwania powtarzalnych i porównywalnych wyników badań zarysowania.

• Półautomatyczny tester zarysowania do badań mikro- i makroskopowych, przeznaczony do realizacji zdefiniowanych procedur kontroli jakości.
• Kompaktowe rozwiązanie do rutynowych badań oraz monitorowania procesów produkcyjnych.
• Elektroniczna kontrola siły obciążenia z zakresem siły testowej od 0,5 do 200 N.
• Możliwość wykonywania badań z obciążeniem stałym oraz narastającym, zgodnie z wymaganiami obowiązujących norm dotyczących badań zarysowania.

• Automatyczna 8 pozycyjna głowica, umożliwiający stosowanie różnych modułów badawczych oraz obiektywów.
• Dynamicznie automatyzowana oś Z oraz napędzana silnikiem oś Y, zapewniające precyzyjne prowadzenie procesu badawczego.
• Oprogramowanie QpixControl2 z funkcją prowadzenia użytkownika przez cały proces wykonywania badania zarysowania.
• Uporządkowana ocena wyników oraz generowanie raportów zapewniające identyfikowalność i pełną dokumentację przeprowadzonych badań.

Metoda: Obciążenie narastające

Wartości początkowej i końcowej siły obciążenia, a także szybkość narastania obciążenia, są definiowane przed rozpoczęciem badania. Podczas wykonywania zarysowania siła obciążająca wzrasta wzdłuż długości śladu zarysowania. Widoczne zmiany zachodzące podczas badania mogą być przypisane jako punkty Lc (obciążenia krytycznego) w odpowiednich miejscach śladu zarysowania.

ISO: PFST – progressive force scratch test (badanie zarysowania przy progresywnie zwiększanej sile)
ASTM: PL – progressive load (obciążenie narastające)
Lc: Load critical (obciążenie krytyczne)

Metoda: Obciążenie stałe

Siła normalna pozostaje stała na całej długości śladu zarysowania. Metoda ta jest odpowiednia do wykonywania pojedynczych pomiarów, porównań serii badawczych oraz powtarzalnych badań realizowanych w ramach kontroli jakości.

ISO: CFST – constant force scratch test (badanie zarysowania przy stałej sile)
ASTM: CL – constant load (obciążenie stałe)
Lc: Load critical (obciążenie krytyczne)

Normy i procedury badawcze

DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 – Określanie przyczepności oraz mechanizmów uszkodzeń mechanicznych twardych powłok ceramicznych z wykorzystaniem metody badania zarysowania.

ISO 27307 – Ocena przyczepności oraz spójności wewnętrznej natryskiwanych cieplnie warstw ceramicznych na przekroju poprzecznym z wykorzystaniem poprzecznego badania zarysowania.

ASTM G171 – Określanie twardości zarysowania powierzchni materiałów przy zastosowaniu zdefiniowanego diamentowego rysika, stałej siły normalnej oraz oceny szerokości powstałego śladu zarysowania.

Dla laboratoriów, które każdego dnia podejmują kluczowe decyzje

Qscratch 20 to automatyczny tester zarysowania do badań mikro- i makroskopowych, przeznaczony do oceny powłok oraz powierzchni funkcjonalnych. System łączy kontrolowane przykładanie siły obciążenia, zintegrowaną ocenę optyczną, intuicyjne prowadzenie procesu badawczego przez oprogramowanie oraz generowanie raportów pomiarowych.

Urządzenie zostało opracowane specjalnie dla laboratoriów, które każdego dnia podejmują istotne decyzje dotyczące jakości i właściwości powierzchni badanych materiałów.

Dla laboratoriów, które każdego dnia podejmują kluczowe decyzje

Qscratch 20 to automatyczny tester zarysowania do badań mikro- i makroskopowych, przeznaczony do oceny powłok oraz powierzchni funkcjonalnych. System łączy kontrolowane przykładanie siły obciążenia, zintegrowaną ocenę optyczną, intuicyjne prowadzenie procesu badawczego przez oprogramowanie oraz generowanie raportów pomiarowych.

Urządzenie zostało opracowane specjalnie dla laboratoriów, które każdego dnia podejmują istotne decyzje dotyczące jakości i właściwości powierzchni badanych materiałów.

Długoterminowe bezpieczeństwo inwestycji dzięki doświadczeniu QATM

Firma QATM wykorzystuje wieloletnie doświadczenie w zakresie badań twardości, metalografii oraz globalnego serwisu, rozwijając swoją ofertę systemów do badań zarysowania. Dzięki temu zapewnia długoterminową wartość użytkową oraz bezpieczeństwo inwestycji w zakupione rozwiązania badawcze.

Światło informujące o stanie urządzenia

Podświetlane logo QATM umożliwia szybkie rozpoznanie aktualnego statusu urządzenia. Zmienna częstotliwość migania wskazuje, czy urządzenie pracuje w trybie automatycznym, czy jest dostępne do realizacji nowych zadań przez operatorów w całym laboratorium.

Dodatkowo standardowo zintegrowane oświetlenie przestrzeni badawczej LED zapewnia prawidłowe ustawienie próbek oraz uchwytów na próbki.

W przypadku modelu Qscratch 20 oświetlenie to dodatkowo zapewnia jednolite natężenie światła podczas obrazowania próbek.

Opcjonalne moduły Qpix Inspect rozszerzają możliwości systemu Qscratch 20 o praktyczne funkcje przeznaczone do oceny właściwości powłok.

Metoda kraterowa (crater-grinding) umożliwia mikroskopowy pomiar grubości powłok zgodnie z normą DIN EN ISO 26423, natomiast badanie przyczepności metodą Rockwella pozwala na jakościową ocenę przyczepności ceramicznych powłok zgodnie z normą DIN EN ISO 26443.

Dzięki temu możliwe jest pozyskanie dodatkowych informacji dotyczących jakości powłoki, ich analiza oraz pełna dokumentacja bezpośrednio w znanym użytkownikowi środowisku oprogramowania QpixControl2.

Mikro/Makrotester zarysowań Qscratch 20 GO